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X射线荧光光谱仪检测分析原理

点击次数:190  发布时间:2020-11-23
  X射线荧光光谱分析仪可以对各种样品的元素组成进行定量分析,包括压片、融珠、粉末液体、甚至是庞大的样品。它使用一种高功率X射线管达到了检测限低和测量时间短的效果。具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。

X射线荧光光谱分析仪

  X射线荧光光谱分析仪物理原理
  当材料暴露在短波长X光检查,或伽马射线,其组成原子可能发生电离,如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势,足以驱逐内层轨道的电子,然而这使原子的电子结构不稳定,在外轨道的电子会“回补”进入低轨道,以填补下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源,光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此,物质放射出的辐射,这是原子的能量特性。广泛应用于机械加工、钢铁贸易、船舶制造、工程公司、冶金等企业中。
  X射线荧光光谱分析仪由激发系统、分光系统以及仪器控制和数据处理系统组成,具有的高灵敏度与宽动态范围的特性使其成为了同等级中性能高的微型光谱仪。其超高的性能可以大大提高吸光度、反射率、荧光与拉曼检测的度。
  激发系统,主要部件为X射线管,可以发出原级X射线(一次X射线),用于照射样品激发荧光X射线;
  分光系统,对来自样品待测元素发出的特征荧光X射线进行分辨(主要为分光晶体);探测系统,对样品待测元素的特征荧光X射线进行强度探测;
  仪器控制和数据处理系统,处理探测器信号,给出分析结果。
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